電子電器零組件、金屬、化學(xué)材料、自動(dòng)化零部件、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、BGA、PCB基板、電子芯片IC、半導體陶瓷及高分子材料之物理性變化的理想測試工具.

　　低溫沖擊實(shí)驗箱技術(shù)規格

　　◥型號：OK-TS-49B

　　◥內箱尺寸：40×35×30cm

　　◥高溫槽溫度范圍：RT-100℃

　　◥低溫槽濕度范圍：-40℃～-10℃

　　◥試驗箱沖擊溫度：高溫:RT-100℃ ;低溫: -10℃～-40℃

　　◥升溫時(shí)間：RT-100℃約需15分鐘

　　◥降溫時(shí)間：RT～-40℃約需60分鐘

　　◥沖擊時(shí)間:0.1～999.9小時(shí),循環(huán)周期1～9999可設定.

　　◥沖擊恢復時(shí)間：高溫(100℃)沖擊30分鐘,低溫(-40℃)沖擊30分鐘;沖擊恢復時(shí)間:5分鐘以?xún)?

　　◥試樣重量：1.5kg

　　◥結構材質(zhì)：全機為SUS不銹鋼板霧面處理，內箱為SUS#304鏡面不銹鋼

　　◥冷凍系統：復疊水冷式歐美進(jìn)口全封閉或半密閉式壓縮機組.

　　◥控制器：大型LED彩色觸控人機界面控制器or單顯LED觸控人機接口控制器.

　　◥安全保護裝置：無(wú)熔絲過(guò)載保護器，壓縮機過(guò)熱、過(guò)流、超壓、加熱干燒、箱內超溫警報系統.

　　◥配 件：測試孔(φ50×1只)，試料架(2組)

　　低溫沖擊實(shí)驗箱特點(diǎn)

　　◥溫度高低試驗箱(三箱)的三箱設備區分為：高溫區、低溫區、測試區三部分，測試產(chǎn)品置于測試區，沖擊時(shí)高溫區或低溫區的溫度沖入測試區進(jìn)行沖擊, 測試產(chǎn)品為靜態(tài)式。

　　◥采用觸控式圖控操作介面，操作筒易。

　　◥沖擊方式應用風(fēng)路切換方式將溫度導入測試區，做冷熱沖擊測試。

　　◥高溫沖擊或低溫沖擊時(shí)，大時(shí)間可達999H，大循環(huán)周期可達9999次。

　　◥系統可作自動(dòng)循環(huán)衙擎或手動(dòng)選擇性沖擊并可設定二區或三區沖擊及冷沖熱沖啟始。

　　◥冷卻采二元冷凍系統，降溫效果快速，冷卻方式為水冷式

　　溫度高低試驗箱特性:

　　◥全新歐美之防爆把手,的造型設計,外觀(guān)質(zhì)感高水準.

　　◥采用大型人機觸控對話(huà)式LED人機接口控制器,操作簡(jiǎn)單,學(xué)習容易,穩定可靠.

　　◥沖擊方式采用風(fēng)格切換方式,將冷、熱溫度導入測試區實(shí)現冷熱沖擊測試目的.

　　◥沖擊時(shí)間0.1～999.9小時(shí),循環(huán)周期1～9999次可設定.

　　◥可設定循環(huán)次數及除霜次數自動(dòng)(手動(dòng))除霜.

　　◥運轉中狀態(tài)顯示及曲線(xiàn),異常及故障點(diǎn)顯示說(shuō)明及排除方法.

　　◥歐美高效率復迭壓縮冷凍機組,運轉噪音地，省能源之設備

　　◥采用PID自動(dòng)演算控制功能,溫度控制精度高

　　◥可作自動(dòng)循環(huán)沖擊或手動(dòng)選擇性沖擊并可選擇二槽或三槽式冷沖、熱沖進(jìn)行沖擊.

　　◥可獨立擔當高溫箱或低溫箱使用,一機三用.

　　◥采用對臭氧系數為零的綠色環(huán)保(HFC)制冷劑R404、R23.

　　溫度高低試驗箱(三箱)執行滿(mǎn)足標準及試驗方法

　　◥GJB150.5 溫度沖擊試驗

　　◥GJB360.7溫度沖擊試驗

　　◥GB/2423.22 溫度沖擊試驗