高溫試驗的測試目的是為了檢驗產(chǎn)品在高溫環(huán)境條件下貯存或使用的適用性。僅適用于經(jīng)過(guò)一定長(cháng)的升溫時(shí)間后，可以達到的溫度穩定的樣品。試驗持續時(shí)間從樣品在規定的試驗溫度等級上達到溫度穩定的瞬間開(kāi)始計算。對于試驗期間不能達到溫度穩定的樣品，如航空和宇航產(chǎn)品，推薦采用特殊的高溫試驗。

   在高溫試驗的試驗方法選擇是我們在做測試時(shí)的疑難問(wèn)題，特別是對于一些剛接觸該試驗的企業(yè)來(lái)講，高溫試驗的試驗方法如何選擇都非常艱難，下面我們以提供以下方法供大家參考：

1、如果試驗目的是為了確定電子電工產(chǎn)品在高溫條件下貯存或百工作狀態(tài)下的適用性，一般要區分非散熱樣品和散熱樣品;

2、散熱樣品在進(jìn)行高曙試驗時(shí)，應采取低空氣流速，以滿(mǎn)足“自由空氣”條件;

3、非散熱樣品進(jìn)行高溫試驗時(shí)，應采取高空氣流速;

4、“自由空氣”條件是指空氣運動(dòng)只受散熱樣品本身的影響，樣品輻射的能量全部由周?chē)諝馕盏臈l件。

5、低空氣流速試驗時(shí)要求這種箱(高溫試驗箱或高低溫試驗箱)的風(fēng)速盡量低，一般不超過(guò)0.5m/s。